ESPECTROSCOPÍA DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE ENERGIA DISPERSIVA

XRF Spectrometry

Sistema

EDX 7000/8000

 La fluorescencia de rayos X por energía dispersiva (EDXRF) es una técnica de muestreo versátil, rápida y no destructiva y relativamente nueva, el EDX 7000/8000 nos ofrece un alto nivel de precision y velocidad en el analisis de un gran número de elementos químicos  presentandonos los resultados en tiempo real y permitiendo decidir asi la necesidad de muestreo.

Sistema

Rango de elementos detectados

  • Rendimiento analítico inigualable

El EDX-7000/8000/8100 incorpora un detector SDD de alta tasa de conteo que logra un alto nivel de sensibilidad, velocidad de análisis y resolución de energía. 

  • No se requiere nitrógeno líquido

En el SDD, este material es silicio de alta pureza con una corriente de fuga muy baja. La alta pureza permite el uso de enfriamiento Peltier en lugar del tradicional nitrógeno líquido.

  • Extremadamente flexible

Acomoda todo tipo de muestras, desde pequeñas hasta grandes, desde polvos hasta líquidos.

Cámara de observación de muestra y colimadores

  • Cambio automático del colimador en cuatro etapas: 1, 3, 5 y 10 mm de diámetro.

Seleccione el diámetro de irradiación más apropiado para la forma de la muestra: 1 mm de diámetro para el análisis de trazas de materia extraña o análisis de defectos; Diámetro de 3 mm o 5 mm para pequeños volúmenes de muestra.

  • Cámara de observación de muestra incluida estándar.

Use la cámara de observación de muestra para confirmar la posición de irradiación de rayos X en una posición específica para medir muestras pequeñas, muestras que comprenden múltiples áreas o cuando se utiliza una Micro X-Cell.

  • El software PCEDX Navi permite una fácil operación desde el principio

 El software PCEDX Navi está diseñado para simplificar la espectrometría de fluorescencia de rayos X para principiantes, al tiempo que proporciona el conjunto de características y capacidades que demandan los usuarios más experimentados.

Sistema

Accesorios

  • Unidad opcional de medición de vacío

Use esta unidad para mediciones sensibles de elementos ligeros. Requiere espacio para la instalación de una bomba rotativa y una caja de interruptores en el costado o en la parte posterior del escritorio que soporta la unidad principal.

  • Unidad de purga de helio avanzada

Esta unidad se utiliza para mediciones altamente sensibles de elementos ligeros en muestras líquidas. No incluye un cilindro o regulador de helio. (Opción para EDX-7000)

  • Torreta de 12 muestras

Esta unidad se utiliza para mediciones altamente sensibles de elementos ligeros en muestras líquidas. No incluye un cilindro o regulador de helio.
(Opción para EDX-7000)

Kit de Análisis del punto pequeño

Efectivo para el análisis de contaminantes pequeños y regiones pequeñas. Los rayos X de excitación pueden colimarse a 0.3 mm de diámetro, lo que es efectivo para el análisis de alta precisión de contaminantes pequeños y para análisis de defectos en regiones pequeñas, análisis difícil con especificaciones estándar (mínimo 1 mm de diámetro).

  • Sistema de análisis de impurezas elementales farmacéuticas

La espectrometría de fluorescencia de rayos X se ha adoptado como un método general en la farmacopea estadounidense y la farmacopea europea para el analisis  24 elementos categorizados en Clase 1 a Clase 3, las cantidades residuales en productos farmacéuticos deben controlarse dentro de los límites permitidos.

El análisis se realiza utilizando el software PCEDX Pro. Las operaciones fáciles de usar permiten mediciones completamente automáticas. Este software altamente funcional admite muchos cálculos cuantitativos, incluidos el método de curva de calibración, el método de parámetros fundamentales (FP), el método FP de película delgada y el método FP de fondo (patentado por Shimadzu).

Sistema

Aplicaciones

  • Materiales eléctricos / electrónicos.

-RoHS y detección de halógenos

  • Análisis de película delgada para semiconductores, discos, cristales   líquidos y células solares.
  • Automóviles y maquinaria

– Detección de elementos peligrosos ELV

– Análisis de composición, medición del espesor del recubrimiento y medición del peso de la película de recubrimiento de conversión química para piezas de máquinas

  • Metales ferrosos / no ferrosos

– Análisis de componentes principales y análisis de impurezas de materias primas, aleaciones, soldaduras y metales preciosos.

– Análisis de composición de escorias

  • Minería

– Análisis de grado para procesamiento de minerales

  • Cerámica

– Análisis de cerámica, cemento, vidrio, ladrillos y arcilla.

  • Petróleo y petroquímicos.

– Análisis de azufre en aceite

– Análisis de elementos aditivos y elementos mixtos en aceite lubricante.

  •  Productos químicos

– Análisis de productos y materias primas orgánicas / inorgánicas.

– Análisis de catalizadores, pigmentos, pinturas, caucho y plásticos.

  • Medio ambiente

Análisis de suelos, efluentes, cenizas de combustión, filtros y partículas finas.

  • Productos farmacéuticos

Análisis del catalizador residual durante la síntesis.

Análisis de impurezas y materias extrañas en ingredientes farmacéuticos activos.

  • Agricultura y alimentos.

Análisis de suelos, fertilizantes y plantas.

Análisis de materias primas, control de elementos añadidos y análisis de materias extrañas en alimentos.

  • Otro

Análisis de composición de muestras arqueológicas y piedras preciosas, análisis de metales pesados ​​tóxicos en juguetes y artículos cotidianos.