X-ray
Diffractometry Instruments
RAYOS XSistema
XDR 6100
Shimadzu XRD está diseñado con el concepto “Proporcionar una solución para el análisis XRD por su facilidad de uso y versatilidad”. El sistema básico con goniómetro de alta precisión se puede variar con elementos opcionales para adaptarse al propósito. Experimente la versatilidad basada en tecnologÃa firme.
CaracterÃsticas:
- Goniómetro vertical de alta velocidad y alta precisión para diversas aplicaciones.
- Diseño compacto de 900 mm (w) x 700 mm (d) x 1600 mm (h)
- Sistema de seguridad enclavado. La puerta está cerrada durante la radiación.
- Se pueden seleccionar unidades de enlace independientes de eje doble θ-2θ, unidades de eje 2θ e θ independientes.
Sistema
XDR 7000
Los difractómetros de rayos X de la serie XRD-7000 cuentan con un goniómetro vertical de alta precisión θ-θ y pueden manejar muestras grandes de hasta 400 × 550 × 400mm.
Además del análisis cualitativo y cuantitativo básico, la serie XRD-7000 maneja la cuantificación de austenita residual, el análisis cuantitativo ambiental, la determinación constante de celosÃa precisa, los cálculos del grado de cristalinidad, el tamaño del cristalito y los cálculos de la deformación del cristal, la determinación del sistema de cristales, asà como otro software. Análisis de estructura cristalina basado. La adición de accesorios permite la medición de estrés, muestras calentadas y pelÃculas delgadas. La gama de aplicaciones se amplÃa aún más mediante el uso del potente sistema óptico de haz paralelo equipado con un detector de alta velocidad de amplio rango y una unidad policapilar
